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FUMIMASA Horikiri
Research Center of Ion Beam Technology
Associate Professor
Researchmap URL
https://researchmap.jp/MasaHorikiriContact Point
masa.horikirihosei.ac.jp
Researcher information
■ Research Keyword
■ Field Of Study
■ Field Of Study
Career
■ Career
- Apr. 2025 - Present
Hosei University, Research Center of Ion Beam Technology, Associate Professor - Apr. 2023 - Jan. 2025
SUMITOMO CHEMICAL Co., Ltd., IT-related electronic and chemical sector, SCIOCS Division - Oct. 2022 - Mar. 2023
SUMITOMO CHEMICAL Co., Ltd., HVPE Development Group - Jul. 2015 - Sep. 2022
SCIOCS Co. Ltd., Business Development Department - Feb. 2013 - Jul. 2015
Hitachi Metals, Ltd., Epi Technology Division - Apr. 2009 - Feb. 2013
Hitachi Cable, Ltd., Advanced Research Center - Apr. 2006 - Mar. 2009
Japan Society for the Promotion of Science, JSPS Research Fellow (DC1)
- Apr. 2006 - Mar. 2009, Tohoku University, Graduate School of Engineering, Department of Mechanical and System Engineering
- Apr. 2004 - Mar. 2006, Tohoku University, Graduate School of Engineering, Department of Mechanical and System Engineering
- Apr. 2000 - Mar. 2004, Tohoku University, Faculty of Engineering, Department of Mechanical and System Engineering
Research activity information
■ Award
■ Research Themes
- Sep. 2018
The Japan Society of Applied Physics, JSAP Outstanding Paper Award
Hydride-vapor-phase epitaxial growth of highly pure GaN layers with smooth as-grown surfaces on freestanding GaN substrates
Hajime Fujikura;Taichiro Konno;Takehiro Yoshida;Fumimasa Horikiri - Mar. 2009
Tohoku University, Dean's Award from the Graduate School of Engineering
- Distance reduction factor in the modified El-Hoshy−Gibbons model determined as a function of Kohn−Sham radii of low-velocity projectiles and impact parameters of targets for small-angle collisions
Kazuhiro Mochizuki; Tomoaki Nishimura; Tomoyoshi Mishima; Fumimasa Horikiri
Japanese Journal of Applied Physics, 01 Jun. 2025 - 6 kV GaN p–n diode fabricated by hybrid epitaxial growth with regrowth interface treated by CF4 plasma
Hiroshi Ohta; Yoshinobu Narita; Shota Kaneki; Toshio Kitamura; Fumimasa Horikiri; Hajime Fujikura; Shinichiro Takatani; Tomoyoshi Mishima
Applied Physics Letters, 06 Jan. 2025 - Fabrication of free-standing GaN substrates using electrochemically formed porous separation layers
Masafumi Yokoyama; Fumimasa Horikiri; Hisashi Mori; Taichiro Konno; Hajime Fujikura
Applied Physics Express, 01 May 2024 - Investigation of dominance in near-surface region on electrical properties of AlGaN/GaN heterostructures using TLM, XPS, and PEC etching techniques
Ryota Ochi; Takuya Togashi; Yoshito Osawa; Fumimasa Horikiri; Hajime Fujikura; Kazunari Fujikawa; Takashi Furuya; Ryota Isono; Masamichi Akazawa; Taketomo Sato
Applied Physics Express, 01 Sep. 2023 - Fabrication of AlGaN/GaN heterostructures on halide vapor phase epitaxy AlN/SiC templates for high electron mobility transistor application
Masatomo Sumiya; Osamu Goto; Yuki Takahara; Yasutaka Imanaka; Liwen Sang; Noboru Fukuhara; Taichiro Konno; Fumimasa Horikiri; Takeshi Kimura; Akira Uedono; Hajime Fujikura
Japanese Journal of Applied Physics, 01 Aug. 2023 - Admittance frequency dispersion in lateral AlGaN/GaN Schottky barrier diodes: Other origins of two Gp/ω peaks
Noboru Fukuhara; Fumimasa Horikiri; Taiki Yamamoto; Takenori Osada; Kenji Kasahara; Takayuki Inoue; Takashi Egawa
Journal of Applied Physics, 28 Feb. 2023 - Characterization of peripheries of n-GaN Schottky contacts using scanning internal photoemission microscopy
Hiroki Imabayashi; Yuto Yasui; Fumimasa Horikiri; Yoshinobu Narita; Noboru Fukuhara; Tomoyoshi Mishima; Kenji Shiojima
Japanese Journal of Applied Physics, 01 Jan. 2023 - Impact on on-resistance of p-n junction diodes by using heavily Ge-doped GaN substrate
Hiroshi Ohta; Naomi Asai; Kazuhiro Mochizuki; Fumimasa Horikiri; Yoshinobu Narita; Tomoyoshi Mishima
Japanese Journal of Applied Physics, 01 Jun. 2022 - Mapping of contactless photoelectrochemical etched GaN Schottky contacts using scanning internal photoemission microscopy—difference in electrolytes
Kenji Shiojima; Ryo Matsuda; Fumimasa Horikiri; Yoshinobu Narita; Noboru Fukuhara; Tomoyoshi Mishima
Japanese Journal of Applied Physics, 01 May 2022 - No significant contribution of hole-trap-enhanced conductivity modulation in GaN p+n diodes formed on low-dislocation-density GaN substrates
Kazuhiro Mochizuki; Hiroshi Ohta; Fumimasa Horikiri; Tomoyoshi Mishima
Japanese Journal of Applied Physics, 01 May 2022 - Analysis of step-velocity-dependent concentration of magnesium in GaN based on Burton−Cabrera−Frank theory and step-edge segregation model
Kazuhiro Mochizuki; Naoki Kaneda; Kentaro Hayashi; Hiroshi Ohta; Fumimasa Horikiri; Tomoyoshi Mishima
Japanese Journal of Applied Physics, 01 Dec. 2021 - Uniformity characterization of SiC, GaN, and α-Ga2O3 Schottky contacts using scanning internal photoemission microscopy
Kenji Shiojima; Yuto Kawasumi; Fumimasa Horikiri; Yoshinobu Narita; Noboru Fukuhara; Tomoyoshi Mishima; Takashi Shinohe
Japanese Journal of Applied Physics, 01 Oct. 2021 - Possible influence of oxygen segregation on reducing specific surface energies for m-plane sides of nanopipes in GaN
Kazuhiro Mochizuki; Fumimasa Horikiri; Hiroshi Ohta; Tomoyoshi Mishima
Japanese Journal of Applied Physics, 01 Sep. 2021 - Self-terminating contactless photo-electrochemical (CL-PEC) etching for fabricating highly uniform recessed-gate AlGaN/GaN high-electron-mobility transistors (HEMTs)
Masachika Toguchi; Kazuki Miwa; Fumimasa Horikiri; Noboru Fukuhara; Yoshinobu Narita; Osamu Ichikawa; Ryota Isono; Takeshi Tanaka; Taketomo Sato
Journal of Applied Physics, 14 Jul. 2021 - Possible contribution of the Gibbs−Thomson effect to filling nanopipes in GaN homoepitaxial layers
Kazuhiro Mochizuki; Fumimasa Horikiri; Hiroshi Ohta; Tomoyoshi Mishima
Japanese Journal of Applied Physics, 01 Jul. 2021 - Substrate off-angle dependency of Al content in Al x Ga1−x N/GaN high-electron-mobility transistor structures on free-standing GaN substrates
Noboru Fukuhara; Fumimasa Horikiri; Yoshinobu Narita; Ryota Isono; Takeshi Tanaka
Japanese Journal of Applied Physics, 01 Jul. 2021 - Mapping of photo-electrochemical etched Ni/GaN Schottky contacts using scanning internal photoemission microscopy—comparison between n- and p-type GaN samples
Ryo Matsuda; Fumimasa Horikiri; Yoshinobu Narita; Takehiro Yoshida; Noboru Fukuhara; Tomoyoshi Mishima; Kenji Shiojima
Japanese Journal of Applied Physics, 01 May 2021 - Breakdown phenomenon dependences on the number and positions of threading dislocations in vertical p-n junction GaN diodes
Hiroshi Ohta; Naomi Asai; Fumimasa Horikiri; Yoshinobu Narita; Takehiro Yoshida; Tomoyoshi Mishima
Japanese Journal of Applied Physics, 01 May 2021 - Step-edge segregation model for step-velocity dependences of carbon and oxygen concentrations in GaN layers grown on m-plane GaN
Kazuhiro Mochizuki; Fumimasa Horikiri; Hiroshi Ohta; Tomoyoshi Mishima
Japanese Journal of Applied Physics, 01 Jan. 2021 - Impact of threading dislocations in GaN p–n diodes on forward I–V characteristics
Hiroshi Ohta; Naomi Asai; Fumimasa Horikiri; Yoshinobu Narita; Takehiro Yoshida; Tomoyoshi Mishima
Japanese Journal of Applied Physics, 01 Oct. 2020 - Homo-epitaxial growth of n-GaN layers free from carbon-induced mobility collapse and off-angle-dependent doping variation by quartz-free hydride vapor phase epitaxy
Hajime Fujikura; Taichiro Konno; Takeshi Kimura; Yoshinobu Narita; Fumimasa Horikiri
Applied Physics Letters, 06 Jul. 2020 - Step-edge and kink segregation models for analysis of reported step-velocity dependences of carbon concentration in GaN
Kazuhiro Mochizuki; Fumimasa Horikiri; Hiroshi Ohta; Tomoyoshi Mishima
Japanese Journal of Applied Physics, 01 Jun. 2020 - Thermal-assisted contactless photoelectrochemical etching for GaN
Fumimasa Horikiri; Noboru Fukuhara; Hiroshi Ohta; Naomi Asai; Yoshinobu Narita; Takehiro Yoshida; Tomoyoshi Mishima; Masachika Toguchi; Kazuki Miwa; Hiroki Ogami; Taketomo Sato
Applied Physics Express, 01 Apr. 2020 - Self-termination of contactless photo-electrochemical (PEC) etching on aluminum gallium nitride/gallium nitride heterostructures
Kazuki Miwa; Yuto Komatsu; Masachika Toguchi; Fumimasa Horikiri; Noboru Fukuhara; Yoshinobu Narita; Osamu Ichikawa; Ryota Isono; Takeshi Tanaka; Taketomo Sato
Applied Physics Express, 01 Feb. 2020 - Fabrication of recessed structures for GaN HEMTs by a simple wet etching process
Fumimasa Horikiri; Noboru Fukuhara; Masachika Toguchi; Kazuki Miwa; Yoshinobu Narita; Osamu Ichikawa; Ryota Isono; Takeshi Tanaka; Taketomo Sato
CS MANTECH 2020 - 2020 International Conference on Compound Semiconductor Manufacturing Technology, Digest of Papers, 2020 - Two-Step Mesa Structure GaN p-n Diodes With Low ON-Resistance, High Breakdown Voltage, and Excellent Avalanche Capabilities
Hiroshi Ohta; Naomi Asai; Fumimasa Horikiri; Yoshinobu Narita; Takehiro Yoshida; Tomoyoshi Mishima
IEEE Electron Device Letters, Jan. 2020 - Roles of carbon impurities and intrinsic nonradiative recombination centers on the carrier recombination processes of GaN crystals
Kazunobu Kojima; Fumimasa Horikiri; Yoshinobu Narita; Takehiro Yoshida; Hajime Fujikura; Shigefusa F. Chichibu
Applied Physics Express, 01 Jan. 2020 - Photoelectrochemical Etching Technology for Gallium Nitride Power and RF Devices
Fumimasa Horikiri; Taketomo Sato; Noboru Fukuhara; Hiroshi Ohta; Naomi Asai; Yoshinobu Narita; Takehiro Yoshida; Tomoyoshi Mishima; Masachika Toguchi; Kazuki Miwa
IEEE Transactions on Semiconductor Manufacturing, Nov. 2019 - Electrodeless photo-assisted electrochemical etching of GaN using a H3PO4-based solution containing S2O8 2– ions
Masachika Toguchi; Kazuki Miwa; Fumimasa Horikiri; Noboru Fukuhara; Yoshinobu Narita; Takehiro Yoshida; Taketomo Sato
Applied Physics Express, 01 Jun. 2019 - Simple wet-etching technology for GaN using an electrodeless photo-assisted electrochemical reaction with a luminous array film as the UV source
Fumimasa Horikiri; Noboru Fukuhara; Hiroshi Ohta; Naomi Asai; Yoshinobu Narita; Takehiro Yoshida; Tomoyoshi Mishima; Masachika Toguchi; Kazuki Miwa; Taketomo Sato
Applied Physics Express, 01 Mar. 2019 - Excellent potential of photo-electrochemical etching for fabricating high-aspect-ratio deep trenches in gallium nitride
Fumimasa Horikiri; Hiroshi Ohta; Naomi Asai; Yoshinobu Narita; Takehiro Yoshida; Tomoyoshi Mishima
Applied Physics Express, 01 Sep. 2018 - Excellent wet etching technique using pulsed anodic oxidation for homoepitaxially grown GaN layer
Fumimasa Horikiri; Yoshinobu Narita; Takehiro Yoshida
Japanese Journal of Applied Physics, 01 Aug. 2018 - Nondestructive measurement of homoepitaxially grown GaN film thickness with Fourier transform infrared spectroscopy
Horikiri, F.; Narita, Y.; Yoshida, T.
Japanese Journal of Applied Physics, 01 Dec. 2017 - Wafer-Level Donor Uniformity Improvement by Substrate Off-Angle Control for Vertical GaN-on-GaN Power Switching Devices
Horikiri, F.; Narita, Y.; Yoshida, T.; Kitamura, T.; Ohta, H.; Nakamura, T.; Mishima, T.
IEEE Transactions on Semiconductor Manufacturing, Nov. 2017 - Ion-irradiation damage on GaN p-n junction diodes by inductively coupled plasma etching and its recovery by thermal treatment
Ohta, H.; Horikiri, F.; Nakamura, T.; Mishima, T.
Nuclear Instruments and Methods in Physics Research, Section B: Beam Interactions with Materials and Atoms, 2017 - Wafer-level nondestructive inspection of substrate off-angle and net donor concentration of the n%-drift layer in vertical GaN-on-GaN Schottky diodes
Horikiri, F.; Narita, Y.; Yoshida, T.; Kitamura, T.; Ohta, H.; Nakamura, T.; Mishima, T.
Japanese Journal of Applied Physics, 2017 - Review-recent advancement in charge- and photo-assisted non-contact electrical characterization of SiC, GaN, and AlGaN/GaN HEMT
Wilson, M.; Findlay, A.; Savtchouk, A.; D{'}Amico, J.; Hillard, R.; Horikiri, F.; Lagowski, J.
ECS Journal of Solid State Science and Technology, 2017 - Mapping of n-GaN Schottky Contacts With Wavy Surface Morphology Using Scanning Internal Photoemission Microscopy
Shiojima, K.; Hashizume, T.; Horikiri, F.; Tanaka, T.; Mishma, T.
Physica Status Solidi (B) Basic Research, 2017 - Hydride-vapor-phase epitaxial growth of highly pure GaN layers with smooth as-grown surfaces on freestanding GaN substrates
Fujikura, H.; Konno, T.; Yoshida, T.; Horikiri, F.
Japanese Journal of Applied Physics, 2017 - Vertical GaN diode with field plate termination using high k dielectrics
Yoshino, M.; Horikiri, F.; Ohta, H.; Yamamoto, Y.; Mishima, T.; Nakamura, T.
IEEJ Transactions on Electronics, Information and Systems, 2016 - High-k dielectric passivation for GaN diode with a field plate termination
Yoshino, M.; Horikiri, F.; Ohta, H.; Yamamoto, Y.; Mishima, T.; Nakamura, T.
Electronics (Switzerland), 2016 - Vertical GaN p-n Junction Diodes with High Breakdown Voltages over 4 kV
Ohta, H.; Kaneda, N.; Horikiri, F.; Narita, Y.; Yoshida, T.; Mishima, T.; Nakamura, T.
IEEE Electron Device Letters, 2015 - Evaluation of high-temperature electronic and electrochemical properties of the strained La
1-x Srx CoO3-δ films prepared by a pulsed laser deposition technique
Nakamura, T.; Hemmi, D.; Iwamoto, K.; Hirai, N.; Sase, M.; Unemoto, A.; Horikiri, F.; Mori, Y.; Sato, K.; Yashiro, K.; Kawada, T.; Mizusaki, J.
Electrochemistry, 2014 - Bulk micromachined energy harvesters employing (K, Na)NbO
3 thin film
Minh, L.V.; Hara, M.; Horikiri, F.; Shibata, K.; Mishima, T.; Kuwano, H.
Journal of Micromechanics and Microengineering, 2013 - Dry etching of lead-free (K,Na)NbO
3 piezoelectric films by Ar/C4 F8 plasma
Horikiri, F.; Shibata, K.; Suenaga, K.; Watanabe, K.; Nomoto, A.; Mishima, T.; Kurokawa, F.; Kanno, I.
Japanese Journal of Applied Physics, 2012 - Micro fabrication of lead-free (K,Na)NbO3 piezoelectric thin films by dry etching
Kurokawa, F.; Yokokawa, R.; Kotera, H.; Horikiri, F.; Shibata, K.; Mishima, T.; Sato, M.; Kanno, I.
Micro and Nano Letters, 2012 - Evaluation of Crystal Orientation for (K,Na)NbO3 Films Using X-ray Diffraction Reciprocal Space map and relationship between crystal orientation and piezoelectric coefficient
Shibata, K.; Suenaga, K.; Watanabe, K.; Horikiri, F.; Mishima, T.; Shiratani, M.
Japanese Journal of Applied Physics, 2012 - Improvement of piezoelectric properties of (K,Na)NbO
3 films deposited by sputtering
Shibata, K.; Suenaga, K.; Watanabe, K.; Horikiri, F.; Nomoto, A.; Mishima, T.
Japanese Journal of Applied Physics, 2011 - Effect of lattice strain and improvement of the piezoelectric properties of (K,Na)NbO
3 lead-free film
Suenaga, K.; Shibata, K.; Watanabe, K.; Nomoto, A.; Horikiri, F.; Mishima, T.
Japanese Journal of Applied Physics, 2010 - Design concept for the high temperature photoelectronic devices using SrTiO3
Horikiri, F.; Sato, K.; Yashiro, K.; Kawada, T.; Mizusaki, J.
Journal of the Electrochemical Society, 2009 - Electrical Ppoperties of Nb-Doped SrTi O3 ceramics with excess Ti O2 for SOFC anodes and interconnects
Horikiri, F.; Han, L.; Iizawa, N.; Sato, K.; Yashiro, K.; Kawada, T.; Mizusaki, J.
Journal of the Electrochemical Society, 2008 - Defect equilibrium and electron transport in the bulk of single crystal SrTi
1 - x Nbx O3 (x = 0.01, 0.001, 0.0002)
Horikiri, F.; Iizawa, N.; Han, L.; Sato, K.; Yashiro, K.; Kawada, T.; Mizusaki, J.
Solid State Ionics, 2008 - The influence of grain boundary on the conductivity of donor doped SrTiO3
Horikiri, F.; Han, L.Q.; Kaimai, A.; Otake, T.; Yashiro, K.; Kawada, T.; Mizusaki, J.
Solid State Ionics, 2006 - Nb-doped SrTiO3-based high-temperature Schottky solar cells
Horikiri, F.; Ichikawa, T.; Han, L.Q.; Kaimai, A.; Yashiro, K.; Matsumoto, H.; Kawada, T.; Mizusaki, J.
Japanese Journal of Applied Physics, Part 1: Regular Papers and Short Notes and Review Papers, 2005
- THE CHEMICAL TIMES 262号特集:無機材料
堀切 文正; 福原 昇; 柴田 真佐知, Joint work, GaNの光電気化学エッチング
関東化学, Oct. 2021, Not reviewed
- GaNパワーデバイスの要素技術
堀切文正
日本学術振興会 R025先進薄膜界面機能創成委員会 2月定例会, 『パワー半導体の最新動向 ~シリコンパワー半導体、および次世代材料』, 27 Feb. 2023, [Invited] - コンタクトレス光電気化学(PEC)エッチングを用いたリセスゲートHEMTの作製
堀切文正; 福原昇; 渡久地政周; 三輪和希; 成田好伸; 市川磨; 磯野僚多; 田中丈士; 佐藤威友
電子情報通信学会 研究会, 31 Jan. 2020, [Invited] - GaN ウエットエッチング
堀切文正
2019年第80回応用物理学会秋季学術講演会 シンポジウム『界窒化物半導体エッチング技術~高制御性と低損傷性を求めて~』, 20 Sep. 2019, [Invited] - GaN Wet Etching Process for Power and RF Devices
Fumimasa Horikiri; Noboru Fukuhara; Hiroshi Ohta; Naomi Asai; Yoshinobu Narita; Takehiro Yoshida; Tomoyoshi Mishima; Masachika Toguchi; Kazuki Miwa; Taketomo Sato
2019 International Conference on Solid State Devices and Materials (SSDM2019), 05 Sep. 2019, [Invited] - GaN Wet Etching Process
Fumimasa Horikiri; Noboru Fukuhara; Hiroshi Ohta; Naomi Asai; Yoshinobu Narita; Takehiro Yoshida; Tomoyoshi Mishima; Masachika Toguchi; Kazuki Miwa; Taketomo Sato
13th Topical Workshop on Heterostructure Microelectronics (TWHM 2019), 29 Aug. 2019, [Invited] - GaN Wet Etching Process for Power and RF Devices
Fumimasa Horikiri; Noboru Fukuhara; Hiroshi Ohta; Naomi Asai; Yoshinobu Narita; Takehiro Yoshida; Tomoyoshi Mishima; Masachika Toguchi; Kazuki Miwa; Taketomo Sato
2019 Asia-Pacific Workshop on Fundamentals and Applications of Advanced Semiconductor Devices (AWAD 2019), 03 Jul. 2019, [Invited] - Recent progress in growth and characterization technologies for next generation GaN-on-GaN vertical devices
Fumimasa Horikiri; Hajime Fujikura; Yoshinobu Narita; Takehiro Yoshida
The 4th E-MRS & MRS-J Bilateral Symposium – 2018, 16 Oct. 2018, [Invited] - GaN基板上GaNエピ層の FT-IRによる評価
堀切文正; 成田好伸; 吉田丈洋
電子情報通信学会 研究会, 24 May 2018, [Invited] - 非鉛圧電薄膜の開発と角速度センサへの応用
堀切文正
法政大学イオンビーム工学セミナー, 02 Mar. 2018, [Invited] - Development of free-standing GaN substrates and high breakdown voltage GaN p-n diodes
Fumimasa Horikiri; Tomoyoshi Mishima
ISPlasma2017/IC-PLANTS2017, 03 Mar. 2017, [Invited] - スパッタ法による(K,Na)NbO3非鉛圧電薄膜の開発 ~高性能KNN膜の作製と角速度センサへの応用~
堀切文正; 渡辺和俊; 柴田憲治
第62回 CVD研究会, 08 Dec. 2015, [Invited] - KNN非鉛圧電薄膜の開発 ~高性能KNN膜の作製と角速度センサへの応用~
堀切文正; 渡辺和俊; 柴田憲治; 末永和史; 野口将希; 江良聡; 岡田和廣
第62回 応用物理学会春季学術講演会, 12 Mar. 2015, [Invited] - (K,Na)NbO3 Lead-free Piezoelectric Films by Sputtering
Fumimasa Horikiri; Kenji Shibata; Kazufumi Suenaga; Kazutoshi Watanabe; Akira Nomoto; Masaki Noguchi; Tomoyoshi Mishima
The 6th International Conference on the Science and Technology for Advanced Ceramics (STAC-6), [Invited]
■ Research Themes
- 未来のあるべき社会・ライフスタイルを創造する技術イノベーション事業
Apr. 2014 - Mar. 2022
- 特許第7606710号, 特開2023-107807, 特願2022-009408, 窒化ガリウム基板
堀切 文正; 三島 友義 - 特許第7597518号, 特開2020-184618, 特願2020-073936, 構造体の製造方法
堀切 文正; 福原 昇; 佐藤 威友; 渡久地 政周 - 特許第7509621号, 特開2022-024947, 特願2020-147715, 窒化物系高電子移動度トランジスタの製造方法および窒化物系高電子移動度トランジスタ
堀切 文正; 福原 昇 - 特許第7425099号, 特開2022-088407, 特願2017-208139, 窒化物半導体基板および半導体積層物
堀切 文正; 吉田 丈洋 - 特許第7352347号, 特開2020-092228, 特願2018-229831, 圧電積層体、圧電素子および圧電積層体の製造方法
柴田 憲治; 渡辺 和俊; 堀切 文正 - 特許第7320098号, 特開2022-084768, 特願2018-047249, 圧電積層体、圧電積層体の製造方法および圧電デバイス
柴田 憲治; 渡辺 和俊; 堀切 文正 - 特許第7320091号, 特開2022-065018, 特願2021-019422, 圧電薄膜付き積層基板、圧電薄膜付き積層基板の製造方法、圧電薄膜素子、スパッタリングターゲット材、およびスパッタリングターゲット材の製造方法
柴田 憲治; 渡辺 和俊; 堀切 文正 - 特許第7302111号, 特開2023-060355, 特願2019-133226, 電気化学センサ用電極
栗原 香; 乙木 洋平; 堀切 文正 - 特許第7296509号, 特開2022-140445, 特願2020-176487, 半導体積層物
堀切 文正; 吉田 丈洋 - 特許第7295836号, 特開2021-057614, 特願2019-213157, 構造体の製造方法および構造体の製造装置
堀切 文正 - 特許第7292664号, 特開2022-051780, 特願2018-558874, III族窒化物積層体
堀切 文正; 三島 友義 - 特許第7261685号, 特開2021-022704, 特願2019-140028, 構造体の製造方法
堀切 文正; 福原 昇 - 特許第7261684号, 特開2021-022703, 特願2019-140027, 構造体の製造方法
堀切 文正; 福原 昇 - 特許第7261546号, 特開2020-013837, 特願2018-133632, 構造体
堀切 文正 - 特許第7254639号, 特開2020-184601, 特願2019-113773, 素子の製造方法
堀切 文正; 福原 昇 - 特許第7245738号, 特開2021-018122, 特願2019-133226, 電気化学センサユニット、電気化学センサ用電極および電気化学センサ用電極の製造方法
栗原 香; 乙木 洋平; 堀切 文正 - 特許第7232074号, 特開2020-136476, 特願2019-027613, III族窒化物半導体装置およびエッチング装置
堀切 文正; 福原 昇 - 特許第7221177号, 特開2021-040102, 特願2019-162205, 構造体の製造方法および製造装置
堀切 文正; 福原 昇 - 特許第7181351号, 特開2021-183559, 特願2017-247639, 窒化物半導体基板、および窒化物半導体基板の製造方法
吉田 丈洋; 藤倉 序章; 柴田 真佐知; 堀切 文正 - 特許第7181052号, 特開2020-065011, 特願2018-196972, 構造体の製造方法および構造体の製造装置
堀切 文正 - 特許第7176944号, 特開2020-107721, 特願2018-244849, 構造体の製造方法および構造体の製造装置
堀切 文正 - 特許第7150269号, 特開2019-197808, 特願2018-090879, 窒化ガリウム積層基板および半導体装置
三島 友義; 太田 博; 堀切 文正; 柴田 真佐知 - 特許第7141849号, 特開2019-199376, 特願2018-094775, 窒化物結晶基板および窒化物結晶基板の製造方法
堀切 文正; 木村 健 - 特許第7112879号, 特開2019-199373, 特願2018-094151, 窒化物半導体積層物の製造方法、膜質検査方法および半導体成長装置の検査方法
堀切 文正 - 特許第7112857号, 特開2019-153679, 特願2018-037473, GaN材料および半導体装置の製造方法
堀切 文正 - 特許第7101736号, 特開2021-042121, 特願2018-110219, GaN単結晶基板および半導体積層物
堀切 文正; 吉田 丈洋 - 特許第7084573号, 特開2018-200983, 特願2017-105756, 結晶積層体、半導体デバイスおよび半導体デバイスの製造方法
堀切 文正; 吉田 丈洋; 三島 友義 - 特許第7084371号, 特開2021-077818, 特願2019-205235, 半導体装置、および、構造体の製造方法
市川 磨; 堀切 文正; 福原 昇 - 特許第7074512号, 特開2019-161074, 特願2018-047248, 圧電積層体、圧電積層体の製造方法、圧電素子、およびスパッタリングターゲット材
柴田 憲治; 渡辺 和俊; 堀切 文正 - 特許第7063736号, 特開2019-214496, 特願2018-112844, 窒化物結晶基板の製造方法
堀切 文正 - 特許第7044600号, 特開2019-161075, 特願2018-047249, 圧電積層体、圧電積層体の製造方法および圧電デバイス
柴田 憲治; 渡辺 和俊; 堀切 文正 - 特許第7037991号, 特開2019-186263, 特願2018-071123, 導電層を備える積層体、および、半導体装置
堀切 文正; 吉田 丈洋; 杉山 睦; マロロップ シマヌッランッグ - 特許第7037892号, 特開2018-190891, 特願2017-093960, 圧電膜を有する積層基板の製造方法、圧電膜を有する素子の製造方法および圧電膜を有する積層体
柴田 憲治; 渡辺 和俊; 堀切 文正 - 特許第7037329号, 特開2019-077600, 特願2017-208139, 窒化物半導体基板、半導体積層物、基板選別プログラム、半導体装置選別プログラム、および半導体装置の製造方法
堀切 文正; 吉田 丈洋 - 特許第7022853号, 特開2021-088773, 特願2020-146749, スパッタリングターゲット材、スパッタリングターゲット材の製造方法、および圧電薄膜付き積層基板の製造方法
柴田 憲治; 渡辺 和俊; 堀切 文正 - 特許第7019149号, JP2017040361, III族窒化物積層体の製造方法、検査方法、および、III族窒化物積層体
堀切 文正; 三島 友義 - 特許第7018103号, 特開2021-129100, 特願2020-041622, 構造体の製造方法および製造装置
堀切 文正; 福原 昇 - 特許第6994835号, 特開2018-145042, 特願2017-040144, 窒化物半導体基板の製造方法および窒化物半導体基板
吉田 丈洋; 堀切 文正 - 特許第6964511号, 特開2019-114732, 特願2017-248826, 圧電積層体、圧電積層体の製造方法および圧電素子
堀切 文正; 柴田 憲治; 渡辺 和俊 - 特許第6961770号, 特開2021-002667, 特願2020-146749, 圧電薄膜付き積層基板および圧電薄膜素子
柴田 憲治; 渡辺 和俊; 堀切 文正 - 特許第6942291号, 特願2021-523824, 構造体の製造方法、および、構造体の製造装置
堀切 文正; 福原 昇 - 特許第6934746号, 特開2018-190890, 特願2017-093959, 圧電膜を有する積層基板、圧電膜を有する素子および圧電膜を有する積層基板の製造方法
柴田 憲治; 渡辺 和俊; 堀切 文正 - 特許第6913626号, 特開2019-112266, 特願2017-247639, 半導体積層物
吉田 丈洋; 藤倉 序章; 柴田 真佐知; 堀切 文正 - 特許第6901995号, 特開2019-009426, 特願2018-098631, 膜厚測定方法、窒化物半導体積層物の製造方法および窒化物半導体積層物
堀切 文正 - 特許第6893268号, 特願2020-041622, 構造体の製造方法
堀切 文正; 福原 昇 - 特許第6872966号, 特開2018-189584, 特願2017-093961, 圧電膜を有する積層基板、圧電膜を有するデバイスおよび圧電膜を有するデバイスの製造方法
柴田 憲治; 渡辺 和俊; 堀切 文正 - 特許第6804615号, 特開2020-014024, 特願2019-191825, 圧電膜を有する積層基板、圧電膜を有する素子および圧電膜を有する積層基板の製造方法
柴田 憲治; 渡辺 和俊; 堀切 文正 - 特許第6783269号, 特開2018-199614, 特願2018-110219, 窒化物結晶基板、半導体積層物、窒化物結晶基板の製造方法、半導体積層物の製造方法および半導体装置の製造方法
堀切 文正; 吉田 丈洋 - 特許第6763540号, 特開2018-032829, 特願2016-166156, 半導体積層物の観察方法、観察装置、観察プログラム、および、半導体装置の製造方法
三島 友義; 堀切 文正 - 特許第6758444号, 特開2019-117943, 特願2019-053158, 圧電薄膜付き積層基板および圧電薄膜素子
柴田 憲治; 渡辺 和俊; 堀切 文正 - 特許第6715780号, 特願2016-573264, ニオブ酸系強誘電体薄膜素子の製造方法
堀切 文正; 柴田 憲治; 渡辺 和俊; 末永 和史; 野口 将希; 黒岩 健次 - 特許第6703979号, 特願2017-508294, ニオブ酸系強誘電体薄膜素子の製造方法
堀切 文正; 柴田 憲治; 渡辺 和俊; 末永 和史; 野口 将希; 黒岩 健次 - 特許第6694102号, 特願2019-148874, 構造体の製造方法と製造装置および中間構造体
堀切 文正; 福原 昇; 佐藤 威友; 渡久地 政周 - 特許第6683972号, 特開2018-032828, 特願2016-166155, 半導体装置とその製造方法および半導体積層物
三島 友義; 堀切 文正 - 特許第6668545号, 特願2019-148872, 構造体の製造方法と製造装置、および光照射装置
堀切 文正; 福原 昇 - 特許第6668546号, 特願2019-148873, 構造体の製造方法および中間構造体
堀切 文正; 福原 昇 - 特許第6668316号, 特開2018-078315, 特願2017-247642, 窒化物半導体積層物および半導体装置
堀切 文正 - 特許第6644295号, 特開2017-045859, 特願2015-167196, 半導体装置
中村 徹; 三島 友義; 太田 博; 山本 康博; 堀切 文正 - 特許第6644294号, 特開2017-045858, 特願2015-167195, 半導体装置
中村 徹; 三島 友義; 太田 博; 山本 康博; 堀切 文正 - 特許第6625260号, 特願2019-138913, 構造体の製造方法および構造体の製造装置
堀切 文正 - 特開2019-199376, 特願2018-094775, 窒化物結晶基板および窒化物結晶基板の製造方法
堀切 文正; 木村 健 - 特開2019-199373, 特願2018-094151, 窒化物半導体積層物の製造方法、窒化物半導体積層物、膜質検査方法および半導体成長装置の検査方法
堀切 文正 - 特開2019-197808, 特願2018-090879, 窒化ガリウム積層基板および半導体装置
三島 友義; 太田 博; 堀切 文正; 柴田 真佐知 - 特許第6607993号, 特開2019-004139, 特願2018-089109, 圧電膜を有する積層基板、圧電膜を有する素子および圧電膜を有する積層基板の製造方法
柴田 憲治; 渡辺 和俊; 堀切 文正 - 特許第6605216号, 特開2016-184688, 特願2015-064726, 強誘電体薄膜積層基板、強誘電体薄膜素子、および強誘電体薄膜積層基板の製造方法
堀切 文正; 柴田 憲治; 渡辺 和俊; 野口 将希; 末永 和史 - 特許第6605215号, 特開2016-184687, 特願2015-064704, 強誘電体薄膜積層基板、強誘電体薄膜素子、および強誘電体薄膜積層基板の製造方法
堀切 文正; 柴田 憲治; 渡辺 和俊; 末永 和史; 遠藤 博之 - 特開2019-186263, 特願2018-071123, 導電層を備える積層体、半導体装置、および、それらの製造方法
堀切 文正; 吉田 丈洋; 杉山 睦; マロロップ シマヌッランッグ - 特許第6591005号, 特開2018-186287, 特願2018-127471, ニオブ酸系強誘電体薄膜素子の製造方法
堀切 文正; 柴田 憲治; 渡辺 和俊; 末永 和史; 野口 将希 - 特開2019-161075, 特願2018-047249, 圧電積層体、圧電積層体の製造方法および圧電デバイス
柴田 憲治; 渡辺 和俊; 堀切 文正 - 特開2019-161074, 特願2018-047248, 圧電積層体、圧電積層体の製造方法および圧電素子
柴田 憲治; 渡辺 和俊; 堀切 文正 - 特開2019-153679, 特願2018-037473, GaN材料および半導体装置の製造方法
堀切 文正 - 特許第6581614号, 特開2018-151321, 特願2017-049073, 半導体構造体の製造方法、検査方法、およびプログラム
堀切 文正 - 特許第6566682号, 特開2016-189370, 特願2015-068017, 強誘電体薄膜素子の製造方法
堀切 文正; 柴田 憲治; 渡辺 和俊; 末永 和史 - 特開2019-117943, 特願2019-053158, 圧電薄膜付き積層基板および圧電薄膜素子
柴田 憲治; 渡辺 和俊; 堀切 文正 - 特開2019-114732, 特願2017-248826, 圧電積層体、圧電積層体の製造方法および圧電素子
堀切 文正; 柴田 憲治; 渡辺 和俊 - 特開2019-112266, 特願2017-247639, 窒化物半導体基板、半導体積層物、積層構造体、窒化物半導体基板の製造方法および半導体積層物の製造方法
吉田 丈洋; 藤倉 序章; 柴田 真佐知; 堀切 文正 - 特開2019-077600, 特願2017-208139, 窒化物半導体基板、半導体積層物、基板選別プログラム、基板データ出力プログラム、基板データ出力プログラム付き窒化物半導体基板、オフ角座標マップ、オフ角座標マップ付き窒化物半導体基板、半導体装置選別プログラム、窒化物半導体基板の製造方法、半導体積層物の製造方法、半導体装置の製造方法および基板データ出力方法
堀切 文正; 吉田 丈洋 - 特許第6502460号, 特開2018-019108, 特願2017-211563, 圧電薄膜付き積層基板および圧電薄膜素子
柴田 憲治; 渡辺 和俊; 堀切 文正 - 特開2019-021994, 特願2017-136447, 圧電膜を有する積層基板、圧電膜を有する素子および圧電膜を有する積層基板の製造方法
柴田 憲治; 渡辺 和俊; 堀切 文正 - 特開2019-009426, 特願2018-098631, 膜厚測定方法、窒化物半導体積層物の製造方法および窒化物半導体積層物
堀切 文正 - 特開2019-009329, 特願2017-124943, 膜厚測定方法、窒化物半導体積層物の製造方法および窒化物半導体積層物
堀切 文正 - 特開2019-004139, 特願2018-089109, 圧電膜を有する積層基板、圧電膜を有する素子および圧電膜を有する積層基板の製造方法
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堀切 文正 - 特許第6268229号, 特開2018-006372, 特願2016-126579, 窒化物半導体積層物、窒化物半導体積層物の製造方法、半導体積層物の製造方法、および半導体積層物の検査方法
堀切 文正 - 特許第6266987号, 特開2014-207429, 特願2014-009043, 圧電薄膜素子、圧電センサ及び振動発電機
柴田 憲治; 野口 将希; 末永 和史; 渡辺 和俊; 堀切 文正 - 特許第6239566号, 特開2017-076730, 特願2015-204179, 圧電薄膜付き積層基板、圧電薄膜素子およびその製造方法
柴田 憲治; 渡辺 和俊; 堀切 文正 - 特許第6196797号, 特開2014-207393, 特願2013-085327, 圧電体薄膜積層基板及び圧電体薄膜素子
末永 和史; 柴田 憲治; 渡辺 和俊; 堀切 文正; 野口 将希 - 特許第6181477号, 特開2015-046544, 特願2013-178024, ニオブ酸アルカリ系圧電体薄膜素子の製造方法
末永 和史; 柴田 憲治; 渡辺 和俊; 堀切 文正; 野口 将希 - 特許第6178246号, 特開2015-131775, 特願2014-003034, 高融点金属の非フッ酸系水溶液およびその製造方法
堀切 文正; 柴田 憲治; 渡辺 和俊; 末永 和史; 野口 将希 - 特許第6178172号, 特開2015-046545, 特願2013-178025, ニオブ酸アルカリ系圧電体薄膜素子の製造方法
末永 和史; 柴田 憲治; 渡辺 和俊; 堀切 文正; 野口 将希 - 特許第6173845号, 特開2015-053417, 特願2013-186048, 圧電体薄膜素子の製造方法
堀切 文正; 柴田 憲治; 末永 和史; 渡辺 和俊; 野口 将希 - 特許第6091281号, 特開2014-187219, 特願2013-061208, 圧電体薄膜積層基板
末永 和史; 柴田 憲治; 渡辺 和俊; 堀切 文正; 野口 将希 - 特許第5897436号, 特開2014-056988, 特願2012-201829, 圧電体薄膜付き基板の製造方法、及び圧電体薄膜素子の製造方法
堀切 文正; 柴田 憲治; 末永 和史; 渡辺 和俊; 野本 明; 野口 将希 - 特許第5858385号, 特開2014-036035, 特願2012-174837, 圧電体素子、圧電体デバイス及びその製造方法
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末永 和史; 柴田 憲治; 渡辺 和俊; 野本 明; 堀切 文正 - 特許第5743203号, 特開2012-253109, 特願2011-123091, 圧電膜素子及び圧電膜デバイス
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堀切 文正; 柴田 憲治; 末永 和史; 渡辺 和俊; 野本 明 - 特許第5636996号, 特開2012-167316, 特願2011-028558, 圧電膜付き基板、圧電膜付き基板の製造方法、及び成膜装置
渡辺 和俊; 柴田 憲治; 末永 和史; 野本 明; 堀切 文正 - 特許第5556514号, 特開2012-059760, 特願2010-198918, 圧電体薄膜ウェハの製造方法、圧電体薄膜素子、及び圧電体薄膜デバイス
堀切 文正; 柴田 憲治; 末永 和史; 渡辺 和俊; 野本 明 - 特許第5553099号, 特開2014-063825, 特願2012-207084, 圧電体薄膜付き基板の製造方法、及び圧電体薄膜素子の製造方法
堀切 文正; 柴田 憲治; 末永 和史; 渡辺 和俊; 野本 明; 野口 将希 - 特許第5510162号, 特開2012-033693, 特願2010-171769, 圧電体薄膜ウェハの製造方法、圧電体薄膜素子、及び圧電体薄膜デバイス
堀切 文正; 柴田 憲治; 末永 和史; 渡辺 和俊; 野本 明 - 特許第5471988号, 特開2012-059852, 特願2010-200484, 圧電体薄膜ウェハの製造方法、圧電体薄膜素子及び圧電体薄膜デバイス、並びに圧電体薄膜ウェハの加工方法
水谷 友哉; 堀切 文正; 柴田 憲治; 末永 和史; 渡辺 和俊; 野本 明 - 特許第5434563号, 特開2011-129774, 特願2009-288071, 圧電体薄膜付き基板の製造方法
堀切 文正; 柴田 憲治; 末永 和史; 渡辺 和俊; 野本 明 - 特許第5403281号, 特開2012-059851, 特願2010-200483, 圧電体薄膜の加工方法
堀切 文正; 柴田 憲治; 末永 和史; 渡辺 和俊; 野本 明 - 特許第5380756号, 特開2013-038322, 特願2011-174981, 圧電体膜素子の製造方法
堀切 文正; 柴田 憲治; 末永 和史; 渡辺 和俊; 野本 明 - 特許第5071503号, 特開2011-204887, 特願2010-070361, 圧電薄膜素子及び圧電薄膜デバイス
柴田 憲治; 末永 和史; 渡辺 和俊; 野本 明; 堀切 文正 - 特許第5056914号, 特開2012-019050, 特願2010-155165, 圧電薄膜素子および圧電薄膜デバイス
柴田 憲治; 末永 和史; 渡辺 和俊; 野本 明; 堀切 文正
- 小学生向けゲームプログラミングコンテスト
流山商工会議所, 13 Nov. 2022 - 05 Feb. 2023
- Increasing wet etch rate in gallium nitride by thermal enhancement
Juno Publishing and Media Solutions Ltd., Semiconductor Today, 58-59頁, Jun. 2020, Paper - Increasing wet etch rate in gallium nitride by thermal enhancement
Juno Publishing and Media Solutions Ltd., Semiconductor Today, 15 May 2020, Internet - Photo-electrochemical etch enables damage-free device fabrication process for GaN
Cambridge University Press, MRS Bulletin, 22 Oct. 2018, Internet - Photo-electro-chemical deep trench etching in GaN
Juno Publishing and Media Solutions Ltd., Semiconductor Today, 72-73頁, Oct. 2018, Paper - Photo-electro-chemical deep trench etching in gallium nitride
Juno Publishing and Media Solutions Ltd., Semiconductor Today, 23 Aug. 2018, Internet - エネルギー損失1/7に~パワー半導体窒化ガリウムで~法政大・住友化学系
日本経済新聞社, 日経産業新聞, 16 Sep. 2015, Paper - 鉛フリー圧電膜の開発に成功(日立電線)
日本経済新聞社ほか6社, 日経産業新聞ほか6紙, 11 Sep. 2010, Paper